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當前位置：上海納騰儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>晶圓檢測
自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學鏡面...
具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導體晶圓生產(chǎn)、半導體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
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